PCに搭載されるメモリの動作検証を行い品質を証明するためのプログラム「R.S.T. Certification Program」を発表いたしました。 株式会社ウルトラエックス2005年10月12日 00時00分[ 株式会社ウルトラエックスのプレスリリース一覧 ] このプログラムは米Ultra-X社と当社 ...

テスト・スピード従来製品比2倍以上、DRAM、NANDフラッシュメモリ両方の高速テストに対応 株式会社アドバンテスト（本社:東京都千代田区 代表取締役社長:吉田 芳明）は、メモリ・テスト・システムの新製品「T5835」を発表しました。従来製品「T5833」の後継 ...

メモリ・テスト・システム「T5851-STM16G」にNVMeのシステム・レベル・テスト機能を追加 株式会社アドバンテスト（本社:東京都千代田区 社長:吉田 芳明、以下「当社」）は、このほど、NVMe（不揮発性メモリに最適化した高速通信プロトコル）のシステム ...

アドバンテストは6月16日、DRAMとNAND型フラッシュメモリの両方の試験に対応可能なメモリ・テスト・システム(メモリテスタ)「T5833」を開発、2015年6月中に出荷を開始すると発表した。 同製品は、モバイル製品で用いられるDRAM(LPDDR3など)、NAND、MCP(Multi Chip ...

TOKYO, Aug. 04, 2025 (GLOBE NEWSWIRE) -- Leading semiconductor test equipment supplier Advantest Corporation (TSE: 6857) will showcase its latest memory test systems and solutions at the Future of ...

株式会社MEMORY LAB（本社：東京都渋谷区、代表取締役：畑瀬研斗、以下「MEMORY LAB」）は、Plug and Play Japan 株式会社（本社：東京都渋谷区、代表取締役社長：ヴィンセント・フィリップ、以下「Plug and Play Japan」）主催のアクセラレータープログラム「Global ...

(株)エヌ・ティ・ティ・ドコモは29日、16MBのメモリーを内蔵したデータカード型PHS『P-in memory(ピー・イン メモリ)』のソフトウェアのバグ修正プログラムの提供を開始するとホームページで告知した。 『P-in memory』 バグの内容は、データ通信終了時にP-in memory ...